Ваша корзина пуста.
Новости
21.11.2017

Поступила в продажу "Рабочая тетрадь по "Основам сестринского дела" под. общ. ред. И.А. Турапиной, уч.пособие, 5-е изд., стереотипное.
Тираж ограничен.

 
25.08.2017

По заявкам наших покупателей издательством перевыпущено учебное пособие для вузов "Транспортная логистика и мультимодальные перевозки. Технологии, оптимизация,
управление" (автор Ю.И.Палагин).

 
08.08.2017

На сайте доступна информация о книге Санитарно-технические системы многоквартирного дома. Устройство и эксплуатация, автор Махитко И.П.

 
03.08.2017

На сайте доступна информация о книге Взаимодействие жидких кристаллов с поверхностью , автор М.Г.Томилин

 
03.08.2017

На сайте доступна информация о книге Безопасность общества и человека в современном мире, автор В.Д.Маньков

 
03.08.2017

На сайте доступна информация о книге Безопасность жизнидеятельности человека в электромагнитных полях, авторы С.М.Аполлонский, Т.В.Каляда, Б.Е.Синдаловский

Мы в контакте

Принимаем к оплате
Капустин А.А. Тяжелые мотоциклы: обслуживание и ремонтТехнология лесопиления: справочник П. П. Черных, А. Ю. Охлопкова, П. Г. Черных.

Куликов И. В. Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем: Критерий качества и надёжности
Увеличить


Куликов И. В. Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем: Критерий качества и надёжности

Цена: 270 Руб.

СПб.: Политехника, 2017. – 172 с.: ил. ISBN 987-5-7325-1115-4

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надёжность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие «электронного функционала» и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надёжность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также её ничтожную достоверность в случае оценки надёжности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель.
Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Оглавление
Предисловие
Принятые сокращения и терминологический словарь
Глава 1. Физические основы функциональной устойчивости
1.1. Предпосылки функциональной устойчивости
1.2. Природа и формирование дефектов структуры Si – SiO2
1.3. Причины деградации параметров базовых элементов
Глава 2. Феноменологическая модель устойчивости
2.1. Основы феномена устойчивости базовых структур
2.2. Концепция оценки функциональной устойчивости
2.3. Исследования функциональной устойчивости СБИС

Глава 3. Функциональная устойчивость и тепловое старение
3.1. Введение в проблему моделирования теплового старения
3.2. Практика использования индекса Еа для оценки надёжности
3.3. Теоретические аспекты термодинамического описания систем

Глава 4. Критерий функциональной устойчивости и надёжность
4.1. Концепция прогноза функционального ресурса СБИС
4.2. Оценка интенсивности сбоев СБИС для расчётов надёжности
4.3. Прикладные аспекты критерия функциональной устойчивости
Приложения
Приложение А. Методика сравнительной оценки качества СБИС по их функциональной устойчивости
Приложение Б. Методика прогноза функционального ресурса СБИС
Приложение В. Методика экспериментально-расчётной оценки интенсивности сбоев (отказов) СБИС

Список литературы

 

Предисловие
Оглавление
Отрывок из книги


Эта книга Вас заинтересовала? Поделитесь с друзьями в социальной сети: